Entwicklung höchstpräziser Messprozesse für Optiken mit dem Ziel, Wafer für die Mikrochip-Produktion optimal zu belichten
Entwicklung und Implementierung komplexer Messverfahren mittels Atomic Force Microscopy (AFM) zur Qualifizierung der Oberflächentopografie in der Serienfertigung
Abstimmung der Anforderungen an neue Messgeräte mit internen Kunden und Ableitung technischer Spezifikationen für externe Entwicklungspartner
Experimentelle und theoretische Analyse sowie kontinuierliche Optimierung der betreuten Messprozesse
Fachliche Führung zugeordneter Mitarbeiter innerhalb des Projektteams
Anforderungen
Sehr gut abgeschlossenes wissenschaftliches oder technisches Universitätsstudium, idealerweise mit Promotion
Fundierte Kenntnisse der AFM-Messtechnik in Theorie und Praxis
Idealerweise Erfahrung in der Spezifikation, Auswahl, Inbetriebnahme und Qualifizierung von Messsystemen
Programmierkenntnisse, bevorzugt in Python oder MATLAB
Ausgeprägte Kommunikations- und Teamfähigkeit sowie eine strukturierte, durchsetzungsstarke Arbeitsweise
Sehr gute Deutsch- und Englischkenntnisse in Wort und Schrift